Heat-assisted magnetic head inspection device and heat-assisted magnetic head inspection method

WO2014156247 Art A1 2. Oktober 2014

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014156247
Aktenzeichen: EP14773640
Anmeldetag: 22. Januar 2014
Veröffentlichung: 2. Oktober 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G11B5/455G01Q30/06G11B5/31

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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