Improvement of barrier film performance with n2o dilution process for thin film encapsulation

WO2014164465 Art A1 9. Oktober 2014

Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014164465
Aktenzeichen: EP14780044
Anmeldetag: 10. März 2014
Veröffentlichung: 9. Oktober 2014
Rechtsraum: WO
IPC: H01L51/52H01L21/205

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Applied Materials, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Applied Materials

US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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