Scan speed optimization of input and output paths
WO2014166549
Art A1
16. Oktober 2014
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2014166549
- Aktenzeichen
- EP13720280
- Anmeldetag
- 12. April 2013
- Veröffentlichung
- 16. Oktober 2014
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/3185G01R31/319
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
Vertreten von
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