Vorrichtung zur Interferentiellen Abstandsmessung

WO2014170066 Art A1 23. Oktober 2014

Anmelder: Dr. Johannes Heidenhain GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014170066
Aktenzeichen: EP14709633
Anmeldetag: 11. März 2014
Veröffentlichung: 23. Oktober 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01B9/02G01B11/02G01B11/14G01D5/38G01D5/26

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Dr. Johannes Heidenhain GmbH
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Dr. Johannes Heidenhain

Deutscher Hersteller von Mess- und Steuerungstechnik, darunter Längen- und Winkelmessgeräte, Drehgeber sowie CNC-Steuerungen für Werkzeugmaschinen und Präzisionsfertigung.

595 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von