X-ray optical component device and x-ray analysis apparatus

WO2014171037 Art A1 23. Oktober 2014

Anmelder: Rigaku Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014171037
Aktenzeichen: EP13882255
Anmeldetag: 12. Dezember 2013
Veröffentlichung: 23. Oktober 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G21K1/06

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Rigaku Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Rigaku

Rigaku ist ein japanischer Hersteller wissenschaftlicher Analysegeräte, insbesondere für Röntgendiffraktion und Röntgenfluoreszenz. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiter- und Elektrotechnik-Anmeldungen. Der Anmeldezeitraum reicht von 2000 bis 2025.

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Fachgebiete

Elektrische Energietechnik

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