Measuring method and measuring device

WO2014171350 Art A1 23. Oktober 2014

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014171350
Aktenzeichen: EP14785452
Anmeldetag: 4. April 2014
Veröffentlichung: 23. Oktober 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01B15/00G01B15/04G01N23/225G06T1/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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