Method for forming pattern, actinic-ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, actinic-ray-sensitive or radiation-sensitive film, process for producing electronic device, and electronic device
WO2014171449
Art A1
23. Oktober 2014
Anmelder: FUJIFILM Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2014171449
- Aktenzeichen
- EP14785094
- Anmeldetag
- 15. April 2014
- Veröffentlichung
- 23. Oktober 2014
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/039C08F220/10C09K3/00G03F7/004G03F7/38
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FUJIFILM Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujifilm
Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.
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