Cantilever, manufacturing process, detection device, and detection method
WO2014174997
Art A1
30. Oktober 2014
Anmelder: Tokyo Electron Limited 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2014174997
- Aktenzeichen
- EP14788585
- Anmeldetag
- 28. März 2014
- Veröffentlichung
- 30. Oktober 2014
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01Q60/24G01N23/04G01Q30/02G01Q60/38G21K7/00G01N23/225
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tokyo Electron Limited
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tokyo Electron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.
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