Monitoring method and monitoring device for foreign substance bad point

WO2014176816 Art A1 6. November 2014

Anmelder: Hefei BOE Optoelectronics Technology Co., Ltd., BOE Technology Group Co., Ltd. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014176816
Aktenzeichen: EP13883710
Anmeldetag: 20. Juni 2013
Veröffentlichung: 6. November 2014
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Hefei BOE Optoelectronics Technology Co., Ltd.
BOE Technology Group Co., Ltd.
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 BOE Technology

Chinesischer Elektronikkonzern mit Sitz in Peking, entwickelt und fertigt Display-Technologien wie LCD- und OLED-Bildschirme für Endgeräte und Industrieanwendungen.

22.025 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von