Strain Mapping in Tem Using Precession Electron Diffraction

WO2014190239 Art A1 27. November 2014

Anmelder: Drexel University 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014190239
Aktenzeichen: EP14801710
Anmeldetag: 23. Mai 2014
Veröffentlichung: 27. November 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/20G01N23/04H01J37/26

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Drexel University
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Drexel University

Die Drexel University ist eine private Universität in Philadelphia, USA, mit breit gefächerter technischer und medizinischer Forschung. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik und Gesundheit sowie Halbleiter- und Werkstofftechnik, ergänzt durch Mess- und Verfahrenstechnik. Anmeldungen reichen von 2000 bis in die Gegenwart.

481 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von