Method for determining problematic equipment using defect map of faulty samples and apparatus for same

WO2014193057 Art A1 4. Dezember 2014

Anmelder: Samsung SDS Co., Ltd. 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014193057
Aktenzeichen: EP13885465
Anmeldetag: 11. November 2013
Veröffentlichung: 4. Dezember 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G06F19/00G06T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Samsung SDS Co., Ltd.
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Samsung SDS

Südkoreanisches IT-Dienstleistungsunternehmen der Samsung-Gruppe mit Sitz in Seoul. Samsung SDS bietet Systemintegration, Logistiksoftware, Cloud- und IT-Beratungsdienste für Unternehmen an.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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