Test substrate and probe card manufactured using same

WO2014205935 Art A1 31. Dezember 2014

Anmelder: Shenzhen Institute of Advanced Technology Chinese Academy of Sciences 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014205935
Aktenzeichen: EP13887989
Anmeldetag: 25. September 2013
Veröffentlichung: 31. Dezember 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01R1/02G01R1/073

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shenzhen Institute of Advanced Technology Chinese Academy of Sciences
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Shenzhen Institute of Advanced Technology Chinese Academy of Sciences

Das Shenzhen Institute of Advanced Technology ist ein Forschungsinstitut der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Sitz in Shenzhen. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Software und Medizintechnik, ergänzt um Mess-, Pharma- und Fertigungstechnik sowie Telekommunikation. Die Anmeldungen decken ein breites Spektrum von medizinischer Ernährung bis zu drahtloser Kommunikationstechnik ab.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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