Method and device for reducing contact resistance of two-dimensional crystalline material

WO2014206117 Art A1 31. Dezember 2014

Anmelder: Institute Of Microelectronics, Chinese Academy Of Sciences 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014206117
Aktenzeichen: EP14817971
Anmeldetag: 18. März 2014
Veröffentlichung: 31. Dezember 2014
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/02H01L21/027

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Institute Of Microelectronics, Chinese Academy Of Sciences
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences

Chinesisches Forschungsinstitut der Chinese Academy of Sciences mit Schwerpunkt auf Mikroelektronik und Halbleitertechnologie. Patente betreffen Chipdesign und Halbleiterfertigung.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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