Lichtmikroskopisches Verfahren der Lokalisationsmikroskopie zur Lokalisierung von Punktobjekten
WO2015000877
Art A1
8. Januar 2015
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2015000877
- Aktenzeichen
- EP14734152
- Anmeldetag
- 1. Juli 2014
- Veröffentlichung
- 8. Januar 2015
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G02B27/00G01N21/64G02B21/16G02B21/36G02B27/58
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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