Verfahren und Vorrichtung zur Spektrometrischen Reflexionsmessung bei Sphärischen Flächen
WO2015004263
Art A1
15. Januar 2015
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2015004263
- Aktenzeichen
- EP14739400
- Anmeldetag
- 11. Juli 2014
- Veröffentlichung
- 15. Januar 2015
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01M11/00G01M11/02G01B9/04G02B21/26G02B21/34
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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