Semiconductor device for radiation detection
WO2015015700
Art A1
5. Februar 2015
Anmelder: Sharp Kabushiki Kaisha 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2015015700
- Aktenzeichen
- EP14831607
- Anmeldetag
- 23. Juni 2014
- Veröffentlichung
- 5. Februar 2015
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L27/146H01L21/336H01L23/52H01L27/12H01L27/144H01L29/786H04N5/32H04N5/335H04N5/357
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Sharp Kabushiki Kaisha
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Sharp
Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.
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