Measurement device and measurement method

WO2015015898 Art A1 5. Februar 2015

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015015898
Aktenzeichen: EP14832654
Anmeldetag: 6. Juni 2014
Veröffentlichung: 5. Februar 2015
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/77C12M1/34G01N21/75C12Q1/66

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Pharma & Biotechnologie

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