High-withstand-voltage semiconductor device, and production method therefor
WO2015019797
Art A1
12. Februar 2015
Anmelder: Fuji Electric Co., Ltd., National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2015019797
- Aktenzeichen
- EP14835000
- Anmeldetag
- 11. Juli 2014
- Veröffentlichung
- 12. Februar 2015
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L29/78H01L29/12H01L29/739
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Fuji Electric Co., Ltd.
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fuji Electric
Japanischer Elektrotechnikkonzern mit Sitz in Tokio, tätig in den Bereichen Leistungshalbleiter, Energieerzeugungsanlagen und industrielle Automatisierungstechnik.
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🇯🇵
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.
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