Automated test equipment for testing a device under test and method for testing a device under test

WO2015028077 Art A1 5. März 2015

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015028077
Aktenzeichen: EP13753647
Anmeldetag: 29. August 2013
Veröffentlichung: 5. März 2015
Rechtsraum: WO
IPC: G06F11/273G01R31/3183G01R31/319

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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