Optical element rotation type mueller-matrix ellipsometer and method for measuring mueller-matrix of sample using the same

WO2015030343 Art A1 5. März 2015

Anmelder: Korea Research Institute Of Standards And Science 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015030343
Aktenzeichen: EP14839749
Anmeldetag: 13. Mai 2014
Veröffentlichung: 5. März 2015
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/17

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Korea Research Institute Of Standards And Science
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Korea Research Institute of Standards and Science

Der Anmelder ist ein südkoreanisches staatliches Forschungsinstitut für Metrologie mit Sitz in Daejeon, bekannt als KRISS. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiterbauelemente, Software und Medizintechnik. Anmeldungen laufen seit 2002 durchgehend fort.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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