Substrate mounting attitude determination device and substrate mounting attitude determination method

WO2015033439 Art A1 12. März 2015

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015033439
Aktenzeichen: EP13893161
Anmeldetag: 6. September 2013
Veröffentlichung: 12. März 2015
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/68B65G49/06H01L21/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Verpackungs- & Fördertechnik

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