Image correction method and apparatus of thin-film transistor substrate detection device

WO2015035820 Art A1 19. März 2015

Anmelder: BOE Technology Group Co., Ltd., Beijing BOE Optoelectronics Technology Co., Ltd. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015035820
Aktenzeichen: EP14843359
Anmeldetag: 30. Juni 2014
Veröffentlichung: 19. März 2015
Rechtsraum: WO
IPC: G02F1/1333G06T7/00H04N3/227

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: BOE Technology Group Co., Ltd.
Beijing BOE Optoelectronics Technology Co., Ltd.
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 BOE Technology

Chinesischer Elektronikkonzern mit Sitz in Peking, entwickelt und fertigt Display-Technologien wie LCD- und OLED-Bildschirme für Endgeräte und Industrieanwendungen.

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Fachgebiete

Nachrichtentechnik & Telekommunikation Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung

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