Scanning transmission electron microscope and aberration measurement method therefor

WO2015037313 Art A1 19. März 2015

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015037313
Aktenzeichen: EP14844609
Anmeldetag: 7. Juli 2014
Veröffentlichung: 19. März 2015
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/153H01J37/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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