Electron-microscope configuration system
WO2015037358
Art A1
19. März 2015
Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2015037358
- Aktenzeichen
- EP14844265
- Anmeldetag
- 31. Juli 2014
- Veröffentlichung
- 19. März 2015
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01J37/24H01J37/06H01J37/22
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi High-Technologies Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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