Apparatus and methods for leakage current reduction in integrated circuits
WO2015038466
Art A1
19. März 2015
Anmelder: Micron Technology, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2015038466
- Aktenzeichen
- EP14844185
- Anmeldetag
- 8. September 2014
- Veröffentlichung
- 19. März 2015
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H03K17/16H03K19/003
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Micron Technology, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Micron Technology
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Boise, Idaho. Micron entwickelt und fertigt Speicherchips wie DRAM und NAND-Flash sowie Speicherlösungen für Computer, Mobilgeräte, Rechenzentren und Automobile.
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