Eye examination device

WO2015040885 Art A1 26. März 2015

Anmelder: Kabushiki Kaisha TOPCON 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2015040885
Aktenzeichen
EP14845839
Anmeldetag
13. Mai 2014
Veröffentlichung
26. März 2015
Rechtsraum
WO
IPC
A61B3/10A61B3/028
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Kabushiki Kaisha TOPCON
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Kabushiki Kaisha Topcon

Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.

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