Image analysis device, image analysis method, image analysis program, cell manufacturing method, cell culturing method, and cell manufacturing device

WO2015041177 Art A1 26. März 2015

Anmelder: Nikon Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015041177
Aktenzeichen: EP14845653
Anmeldetag: 12. September 2014
Veröffentlichung: 26. März 2015
Rechtsraum: WO
IPC: G06T7/20C12M1/34C12N5/071G06T1/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Nikon Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Nikon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.

5.286 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Pharma & Biotechnologie Software & Datenverarbeitung

Vertreten von