Electron Microscope

WO2015045476 Art A1 2. April 2015

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015045476
Aktenzeichen: EP14849413
Anmeldetag: 16. Mai 2014
Veröffentlichung: 2. April 2015
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/295G01N23/04H01J37/09H01J37/147H01J37/153H01J37/24H01J37/244H01J37/26H01J37/28

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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