Substrate provided with conductive film, substrate provided with multi-layer reflection film, reflective mask blank, reflective mask, and semiconductor device manufacturing method
WO2015046095
Art A1
2. April 2015
Anmelder: HOYA Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2015046095
- Aktenzeichen
- EP14846932
- Anmeldetag
- 22. September 2014
- Veröffentlichung
- 2. April 2015
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/027G03F1/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HOYA Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hoya
Japanischer Konzern mit Sitz in Tokio, aktiv in den Bereichen optische Gläser, Halbleiterfotomasken und medizinische Endoskopie- sowie Augenheilkundeprodukte.
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Vertreten von
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