Methods of forming semiconductor devices and structures with improved planarization uniformity, and resulting structures and semiconductor devices

WO2015047692 Art A1 2. April 2015

Anmelder: Micron Technology, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2015047692
Aktenzeichen
EP14846928
Anmeldetag
5. September 2014
Veröffentlichung
2. April 2015
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/304
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Micron Technology, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Micron Technology

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Boise, Idaho. Micron entwickelt und fertigt Speicherchips wie DRAM und NAND-Flash sowie Speicherlösungen für Computer, Mobilgeräte, Rechenzentren und Automobile.

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