Method and apparatus for measuring phase noise
WO2015055823
Art A1
23. April 2015
Anmelder: Centre National de la Recherche Scientifique, NXP B.V. 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2015055823
- Aktenzeichen
- EP14803054
- Anmeldetag
- 17. Oktober 2014
- Veröffentlichung
- 23. April 2015
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R29/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Centre National de la Recherche Scientifique
NXP B.V. - Land
- 🇫🇷 Frankreich
🇫🇷
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Französische staatliche Forschungsorganisation mit Sitz in Paris. Betreibt Grundlagen- und angewandte Forschung in nahezu allen wissenschaftlichen Disziplinen über zahlreiche Institute und Labore.
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🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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