Methods to introduce sub-micrometer, symmetry-breaking surface corrugation to silicon substrates to increase light trapping

WO2015058105 Art A1 23. April 2015

Anmelder: STC.UNM 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015058105
Aktenzeichen: EP14854107
Anmeldetag: 17. Oktober 2014
Veröffentlichung: 23. April 2015
Rechtsraum: WO
IPC: H01L31/0236H01L31/18

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: STC.UNM
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Stc.unm

STC.UNM ist die Technologietransfergesellschaft der University of New Mexico in den USA. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik, Pharma-/Biotechnologie und Mess-, Prüf- sowie Halbleitertechnik. Die Anmeldungen von 2001 bis 2020 reichen von Isotopentrennverfahren bis zur elektrischen Impedanzspektroskopie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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