Fundus analysis device and fundus analysis program
WO2015064531
Art A1
7. Mai 2015
Anmelder: Nidek Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2015064531
- Aktenzeichen
- EP14858327
- Anmeldetag
- 27. Oktober 2014
- Veröffentlichung
- 7. Mai 2015
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- A61B3/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Nidek Co., Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nidek
Nidek ist ein japanischer Hersteller ophthalmologischer Geräte, etwa für Diagnostik und Laserbehandlung am Auge. Das Patentportfolio konzentriert sich entsprechend auf Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Werkzeug-, Fertigungs- und Drucktechnik sowie Optik und Fototechnik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2025.
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