Apparatus and methods for detecting substrate alignment during a printing process

WO2015069279 Art A1 14. Mai 2015

Anmelder: Empire Technology Development LLC 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015069279
Aktenzeichen: EP13896893
Anmeldetag: 8. November 2013
Veröffentlichung: 14. Mai 2015
Rechtsraum: WO
IPC: G03B27/58

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Empire Technology Development LLC
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Empire Technology Development

US-amerikanisches Unternehmen mit Sitz in Delaware, das als Patentverwertungsgesellschaft Erfindungen aus verschiedenen Technologiebereichen managt und lizenziert.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik

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