Sub-pixel analysis and display of fine grained mineral samples

WO2015069879 Art A1 14. Mai 2015

Anmelder: FEI Company 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015069879
Aktenzeichen: EP14860264
Anmeldetag: 6. November 2014
Veröffentlichung: 14. Mai 2015
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/00G01N23/225H01J37/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: FEI Company
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 FEI Company

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von