Verfahren zur Optischen Charakterisierung eines Optoelektronischen Halbleitermaterials und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens

WO2015074968 Art A1 28. Mai 2015

Anmelder: OSRAM Opto Semiconductors GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015074968
Aktenzeichen: EP14796788
Anmeldetag: 14. November 2014
Veröffentlichung: 28. Mai 2015
Rechtsraum: WO
IPC: H01L33/00G01R31/26G01N21/64

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: OSRAM Opto Semiconductors GmbH
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 OSRAM Opto Semiconductors

Deutsches Unternehmen für optoelektronische Halbleiter mit Sitz in Regensburg, Tochtergesellschaft von OSRAM. Es entwickelt LEDs, Laserdioden und Sensoren für Beleuchtung, Automobil- und Consumer-Elektronik.

2.304 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von