Data processing device and method of conducting a logic test in a data processing device

WO2015075509 Art A1 28. Mai 2015

Anmelder: NXP USA, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015075509
Aktenzeichen: EP13897778
Anmeldetag: 25. November 2013
Veröffentlichung: 28. Mai 2015
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/3187

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: NXP USA, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 NXP USA

US-amerikanische Gesellschaft des Halbleiterkonzerns NXP, die Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation und Industrieelektronik entwickelt.

1.629 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von