Methods and devices for detecting open and/or shorts circuits in mems micro-mirror devices

WO2015078482 Art A1 4. Juni 2015

Anmelder: Intel Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015078482
Aktenzeichen: EP13794922
Anmeldetag: 22. November 2013
Veröffentlichung: 4. Juni 2015
Rechtsraum: WO
IPC: G02B26/08G09G3/34

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Intel Corporation
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Intel

US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.

26.633 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik Optik & Fototechnik

Vertreten von