Monitor, integrated circuit and method for monitoring an integrated circuit

WO2015087110 Art A1 18. Juni 2015

Anmelder: NXP USA, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2015087110
Aktenzeichen
EP13898997
Anmeldetag
9. Dezember 2013
Veröffentlichung
18. Juni 2015
Rechtsraum
WO
IPC
G06F11/30
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
NXP USA, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 NXP USA

US-amerikanische Gesellschaft des Halbleiterkonzerns NXP, die Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation und Industrieelektronik entwickelt.

1.629 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen