Method and apparatus for validating a test pattern

WO2015087114 Art A1 18. Juni 2015

Anmelder: NXP USA, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015087114
Aktenzeichen: EP13899131
Anmeldetag: 13. Dezember 2013
Veröffentlichung: 18. Juni 2015
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NXP USA, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 NXP USA

US-amerikanische Gesellschaft des Halbleiterkonzerns NXP, die Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation und Industrieelektronik entwickelt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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