Multi-port measurement technique for determining s-parameters
WO2015090478
Art A1
25. Juni 2015
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2015090478
- Aktenzeichen
- EP13819038
- Anmeldetag
- 20. Dezember 2013
- Veröffentlichung
- 25. Juni 2015
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R27/32
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
Vertreten von
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