Wavelength scanning analysis apparatus and method

WO2015093599 Art A1 25. Juni 2015

Anmelder: Nikkiso Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015093599
Aktenzeichen: EP14872541
Anmeldetag: 19. Dezember 2014
Veröffentlichung: 25. Juni 2015
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/359

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Nikkiso Co., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Nikkiso

Nikkiso ist ein japanisches Industrieunternehmen mit Sitz in Tokio, das Pumpen, Energietechnik und medizinische Geräte wie Dialysesysteme herstellt. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt um Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiterbauelemente. Anmeldungen decken den Zeitraum 2000 bis 2025 ab.

428 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von