Verfahren zum Analysieren einer Probe mit einem Mikroskop
WO2015104419
Art A1
16. Juli 2015
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2015104419
- Aktenzeichen
- EP15700655
- Anmeldetag
- 13. Januar 2015
- Veröffentlichung
- 16. Juli 2015
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N1/28G01N35/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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