Electron beam device equipped with orbitron pump, and electron beam radiation method therefor
WO2015115000
Art A1
6. August 2015
Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2015115000
- Aktenzeichen
- EP14880677
- Anmeldetag
- 24. Dezember 2014
- Veröffentlichung
- 6. August 2015
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01J37/18
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi High-Technologies Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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