Electrostatic chuck with magnetic cathode liner for critical dimension (cd) tuning
WO2015116500
Art A1
6. August 2015
Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2015116500
- Aktenzeichen
- EP15743643
- Anmeldetag
- 23. Januar 2015
- Veröffentlichung
- 6. August 2015
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/683H02N13/00B23Q3/15
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Applied Materials, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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