Material evaluation device and method

WO2015118605 Art A1 13. August 2015

Anmelder: Fujitsu Limited 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015118605
Aktenzeichen: EP14882006
Anmeldetag: 4. Februar 2014
Veröffentlichung: 13. August 2015
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/225H01J37/244

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Fujitsu Limited
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujitsu

Japanisches Unternehmen für Informationstechnik, das Computer, Server, Netzwerktechnik sowie IT-Dienstleistungen und Softwarelösungen entwickelt und anbietet.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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