Interferometer calibration method and interferometer using said calibration method

WO2015129696 Art A1 3. September 2015

Anmelder: Kabushiki Kaisha Topcon 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015129696
Aktenzeichen: EP15754669
Anmeldetag: 24. Februar 2015
Veröffentlichung: 3. September 2015
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/17

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Kabushiki Kaisha Topcon
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kabushiki Kaisha Topcon

Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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