Scanning Electron Microscope

WO2015133214 Art A1 11. September 2015

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015133214
Aktenzeichen: EP15758545
Anmeldetag: 4. Februar 2015
Veröffentlichung: 11. September 2015
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/28H01J37/04H01J37/05H01J37/09H01J37/21H01J37/244

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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