Inspection system for device to be tested, and method for operating inspection system for device to be tested

WO2015137023 Art A1 17. September 2015

Anmelder: Sintokogio, Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015137023
Aktenzeichen: EP15762029
Anmeldetag: 5. Februar 2015
Veröffentlichung: 17. September 2015
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/26

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Sintokogio, Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sintokogio, Ltd.

Japanischer Hersteller von Gießerei- und Industrieanlagen (Formmaschinen, Oberflächenbehandlungstechnik) mit Sitz in Nagoya. Patente betreffen Gieß- und Fertigungstechnik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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