Method and system for managing defects in focal plane arrays using redundant components
WO2015153122
Art A1
8. Oktober 2015
Anmelder: Raytheon Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2015153122
- Aktenzeichen
- EP15713618
- Anmeldetag
- 18. März 2015
- Veröffentlichung
- 8. Oktober 2015
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H04N5/367H04N5/378H04N17/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Raytheon Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Raytheon Company
US-amerikanisches Rüstungs- und Technologieunternehmen mit Sitz in Massachusetts, heute Teil von RTX Corporation. Entwickelt Verteidigungssysteme, Radartechnik, Flugabwehr, Sensorik und Luftfahrtelektronik.
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